[Back]

J. Crespo Casanova, H.P. Degischer, K. Track, E. Maire, C. Landron, B. Harrer:
"Rissfortschritt in Sphäroguss mit unterschiedlicher Graphitverteilung bei in-situ Zugversuchen im Synchrotron-Strahl";
Talk: 45. Metallographie Tagung 2011, Karlsruhe; 09-13-2011 - 09-16-2011; in: "Sonderbände der Praktischen Metallografie", (2011), ISBN: 978-3-88355-387-0; 147 - 152.

Dank der besonderen Brillianz der Synchrotron-Röntgenstrahlung (SCT, mit Hochenergiestrahl ID15/ESRF, (1,6μm)³/Voxel) wird an Proben mit Durchmessern <1,5mm eine Ortsauflösung >5μm erzielt. Eine SCT-Aufnahme benötigt weniger als 10s, sodass in-situ Zugversuche beobachtbar sind. Dabei wird auch die lokale Verteilung der Graphitteilchen und der Mikroporen ermittelt.
Um den Risspfad nachzuvollziehen, wurden der Bruchbereich der gebrochenen in-situ Zugproben (1x1mm²) mit einer Submikrofokusröhre nanotom, sμXCT) mit 145kV mit einer Voxelgröße von (0,75μm)³ tomografiert, damit man die Synchrotron-Daten der nanotom-fraktografie zuordnen kann. Damit kann man Teilchen >5μm in Proben <1,5mm Durchmesser gut sehen.
Durch die Anpassung des SCT-Datensatzes vor dem Bruch an den sμXCT-Datensatz der gebrochenen Zugproben wird die Wirkung der Graphitanhäufungen sowie der Mikroporen auf den Rissfortschritt von der Risseinleitung bis zum Bruchvorgang während der Zugbelastung gezeigt.